ЗУМ-стереомикроскоп для работы в проходящем и отраженном свете ЗУМ-Стеромикроскоп STEREOTEK-SZ1 Эр..
ЗУМ-стереомикроскоп для работы в проходящем и отраженном свете ЗУМ-Стеромикроскоп STEREOTEK-SZ2/SZ3..
Инвертированный микроскоп MICROTEK-IM для металлографических исследований по методу светлого и темно..
Инвертированный микроскоп MICROTEK-IM2 для металлографических исследований по методу светлого поля, ..
MICROTEK-DM1 - серия прямых металлографических микроскопов для работы в отраженном свете. Модель MI..
MICROTEK-DM2 - серия прямых металлографических микроскопов для работы в отраженном и проходящем свет..
Прямые микроскопы серии RX50 предназначены для наблюдения в отраженном и проходящем свете. Объективы..
Стереомикроскоп SZX12, созданный на основе системы Галилея, обладает самым высоким разрешением и уве..
Максимальное увеличение SEM 150 составляет 150 000 раз, а разрешение достигает 5 нм (SE, 30 кВ). Он ..
SEM 3200 - сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью, обладающий высокой производительн..
SEM 3200А - сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью, обладающий высокой производитель..