• Электронный микроскоп SEM 3200
  • Готов к работе после распаковки!
  • Гарантия 1 год и постгарантийное обслуживание!
  • Доставка в любую точку России!

SEM 3200 - сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью, обладающий высокой производительностью и широким применением. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и низкого вакуума. Он также имеет большую глубину резкости и удобный для пользователя интерфейс для определения характеристик образцов. Широкие возможности масштабирования помогают пользователям исследовать большой спектр микроскопических изображений.

Ключевые особенности:

  • Модульность конструкции SE\BSE\EDS\EBSD
  • Оптическая навигация Быстрый поиск области интереса (ROI)
  • Большая площадь сканирования Автоматическая съемка и сшивка изображений
  • Объединение изображения (SE+BSE) Информация о составе и поверхности образца представлена на одном изображении.
  • Режим низкого вакуума Предоставляет подробную информацию о поверхности и морфологии образца при низком вакууме, ПО переключает состояние вакуума одним нажатием мыши.

Технические характеристики Сканирующего электронного микроскопа SEM 3200

Модель SEM 3200
Электронная оптическая система Электронная пушка Предварительно центрованная, вилочного типа, вольфрамовая
Разрешение Высокое напряжение

3 нм А 30kV (SE)

4 нм А 30kV(BSE)

8 нм А 30kV(SE)

Низкое напряжение 3 нм А 30kV (SE)
Увеличение

1 ~ 300,000 x (film)

1 ~ 1000,000 x (screen)

Ускоряющее напряжение 0.2 кВ ~ 30 кВ
Система анализа Детектор Детектор вторичных электронов
EBSD, Низкий вакуумSED,EDS
Формат изображения TIF, JPG, BMP, PNG
Вакуумная система Режим Высоки вакуум

<5×10-4Па

Низкий вакуум 5~1000 Па
Управление Автоматическое
Турбомолек. Насос ≥ 240 Л/c
Механическая помпа 200 Л/мин (50 Гц)
Камера Камера Оптическая навигация
Мониторинг
Столик 3-осевой, автоматический
Расстояние

X: 120 мм

Y: 115 мм

Z: 50 мм

ПО Язык Китайский/Английский/Русский
ОС Windows
Навигация Оптическая навигация
Автоматические функции Автоматическая яркость и контраст, астигматизм, фокус
Дополнительные функции Интеллектуальная коррекция астигматизма, мозаичное изображение (опция)
Требования Габариты Д ≥ 3000 mm,Ш≥ 4000 mm,В≥ 2300 mm
Температура 20 ℃~25 ℃
Относительная влажность ≤ 50 %
Электропитание AC 220 V (±10 %),50 Hz,2 kVA

Теги: Электронный микроскоп SEM 3200, Микроскопы и стереомикроскопы