• Электронный микроскоп SEM 3200
  • Готов к работе после распаковки!
  • Гарантия 1 год и постгарантийное обслуживание!
  • Доставка в любую точку России!

SEM 3200 - сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью, обладающий высокой производительностью и широким применением. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и низкого вакуума. Он также имеет большую глубину резкости и удобный для пользователя интерфейс для определения характеристик образцов. Широкие возможности масштабирования помогают пользователям исследовать большой спектр микроскопических изображений. 

Ключевые особенности:

  • Модульность конструкции SE\BSE\EDS\EBSD
  • Оптическая навигация Быстрый поиск области интереса (ROI)
  • Большая площадь сканирования Автоматическая съемка и сшивка изображений
  • Объединение изображения (SE+BSE) Информация о составе и поверхности образца представлена на одном изображении.
  • Режим низкого вакуума Предоставляет подробную информацию о поверхности и морфологии образца при низком вакууме, ПО переключает состояние вакуума одним нажатием мыши.

Технические характеристики Сканирующего электронного микроскопа SEM 3200:

Модель

SEM 3200

Электронная оптическая система

 

Электронная пушка

Предварительно центрованная, вилочного типа, вольфрамовая

Разрешение

Высокое напряжение

3 нм А 30 kV (SE)

4 нм А 30 kV (BSE)

8 нм А 30 kV (SE)

Низкое напряжение

3 нм А 30 kV (SE)

 

Увеличение

1 ~ 300,000 x (film)

1 ~ 1000,000 x (screen)

Ускоряющее напряжение

0.2 кВ ~ 30 кВ

Система анализа

Детектор

Детектор вторичных электронов

 

EBSD, Низкий вакуум SEDEDS

Формат изображения

TIF, JPG, BMP, PNG

Вакуумная система

Режим

Высоки вакуум

<5×10-4 Па

Низкий вакуум

1000 Па

Управление

Автоматическое

Турбомолек. Насос

≥ 240 Л/c

Механическая помпа

200 Л/мин (50 Гц)

Камера

Камера

Оптическая навигация

Мониторинг

Столик

3-осевой, автоматический              

Расстояние

X: 120 мм

Y: 115 мм

Z: 50 мм

 

ПО

Язык

Китайский/Английский/Русский

ОС

Windows

Навигация

Оптическая навигация

Автоматические функции

Автоматическая яркость и контраст, астигматизм, фокус

Дополнительные функции

Интеллектуальная коррекция астигматизма, мозаичное изображение (опция)

Требования

Габариты

Д ≥ 3000 mm, Ш ≥ 4000 mm, В ≥ 2300 mm

Температура

20 ℃ 25 ℃

Относительная влажность

≤ 50 %

Электропитание

AC 220 V (±10 %)50 Hz2 kVA

Теги: Электронный микроскоп SEM 3200, Микроскопы и стереомикроскопы